一．什么样的样品适合用TEM观察？

       透射电镜通过收集透射电子信号，来呈现样品的微观形貌。 类似于生物实验中的细胞切片，透射电镜要求观察样品尽可能的薄。

       厚度或粒径大于500nm的样品，请不要选用TEM观察；选用SEM，效果更好。

       厚度或粒径介于10nm-500nm之间的样品，可以获得样品的形貌及晶体结构信息。

       厚度或粒径小于10nm的样品，比较容易获取颗粒的高分辨像（原子像）。

二．如何将样品分散到碳支持膜上？

       制备样品时，先将样品（一般为粉末、胶体颗粒等）超声均匀分散于易挥发溶剂中（如乙醇）。将碳支持膜放于干净的滤纸上，用滴管滴一滴含有被测样品的乙醇溶液，使其下落在碳膜上。带溶剂完全挥发后，放入电镜中观察。

三．电镜制样的几点要求

1. 由于溶剂对电镜的真空系统破坏很大，为了保证样品的干燥，请务必于测试前一天将样品制备好，并建议用60度烘箱及短时间的红外灯辐照，使样品干燥。Tip：使用镊子夹取碳膜时，如果碳膜黏在镊子上，很有可能样品还未完全干燥！！

2. 由于大颗粒落在电镜镜筒内无法除去，直接影响电镜寿命及观察效果，请务必确认点样的乙醇溶液中待测样品浓度适中，样品分散到碳膜上后颗粒分布较稀。光学显微镜可以做初步检测。肉眼可察觉的粉尘及厚厚一层胶状渍铺在碳膜上均为不合格的样品，前者容易在观察过程中，大颗粒落入镜筒中污染镜筒；后者放入电镜中，由于厚度太大无法观察。

3. 由于电镜中的磁透镜由电磁线圈组成，故对磁性颗粒的操作须十分谨慎。磁颗粒吸附在磁透镜线圈上永久性无法去除。暂时不提供磁性颗粒样品的测试及观察。

4. 对于不符合要求的样品，操作员有权不为其提供测试服务，或在实验过程中及时终止。